用途说明：JFZ1型单晶衍射仪是我公司最新推出的，基于全自动测试的新一代晶体定向仪，是集晶体定向测试与扫描未知晶体晶向于一体的新型设备，既满足了晶体加工中检测的需求，又同时可以挑选出不同晶向面的晶体。本产品从根本上解决了操作的便捷性，与传统的测量晶向角度方式需要人员的培训，转变为微机控制一键测量的快捷操作。
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组成部分 |
详细类别 |
参数 |
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X 光管 |
靶材类型 |
Cu、Fe、Co、Cr、Mo、W等靶材可选 |
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焦点 |
1×10mm或0.4 ×10mm | |
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最大输出功率 |
2kW | |
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X射线发生器 |
X光管电压 |
10~50kV，1kV/step |
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X光管电流 |
2~50mA，1mA/step | |
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输出稳定度 |
≤0.005%（电源波动±10%） | |
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测角仪 |
测角仪结构 |
卧式测角仪θs-θd结构（样品竖直固定不动） |
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测角仪扫描半径 |
标准185mm（150~285mm可调） | |
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扫描范围 |
5°~120° | |
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扫描速度 |
0.006~10°/min | |
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扫描方式 |
θs-θd联动、θs或θd单动 | |
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工作方式 |
步进、连续、分段扫描 | |
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最小步进角度 |
0.0001° | |
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测量精度 |
≤0.001° | |
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2θ角重复性 |
0.0001° | |
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角定位速度 |
1800°/min（2θ） | |
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记录单元 |
探测器类型 |
盖革计数器 |
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工作方式 |
计算机操作，自动控制扫描，保存数据图形 | |
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探测器高压 |
700~1100VDC连续可调 | |
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综合指标 |
报警类型 |
kV或mA过高、kV或mA过低、无水报警、 |
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安全防护 |
防护系统为多重防护，关键位置有敷铅或铅玻璃防护，防止射线泄漏，防护门连锁保护 | |
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X射线泄漏 |
≤0.1μSv/h（X光管最大功率，未扣除本底） | |
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综合稳定度 |
≤0.5%（40kV,40mA,连续工作14小时） | |
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外形尺寸（主体） |
mm×mm×mm（长×宽×高） |